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| 品牌 | 昊量光電 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
相位偏折術/相位偏折測量系統
相位偏折術/相位偏折測量系統產品簡介：
偏折測量技術（PDM）又稱為相位偏折術或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術,絕對檢測精度可達10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測。具有測量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點。
上海昊量光電設備有限公司近日推出市面上shou款商業化的共(gong)軸偏折術測量系統，具有操作方便，檢測精度高（<15nm RMS）,應用范圍廣等特點。相位偏折測量 系統主要由ccd相機 、LCD顯示屏和待測件三個部分組成，系統配置如下圖。LCD顯示屏投射提前生成好的結構光正弦條紋，正弦條紋被待測鏡表面反射后發生畸變，CCD相機采集畸變后的條紋，再利用相位斜率映射關系從畸變的條紋圖中計算出待測鏡梯度信息，再根據基梯度數據的面形重構算法，重建出待測鏡的面形。
圖(tu)1 偏折術自測軟件系統
偏折術體系（PMD）廠品主要優勢：
檢查gps精程度高：<15nm RMS
校(xiao)正(zheng)空(kong)間寬：可能校(xiao)正(zheng)單(dan)面(mian)、球(qiu)體(ti)鏡、非球(qiu)體(ti)鏡、離軸(zhou)拋(pao)物面(mian)、人身自(zi)由斜面(mian)等；
對環鏡(jing)噪音污染不敏(min)感性：具特別強的(de)抗(kang)環鏡(jing)干擾信號；
軟(ruan)件系(xi)統搭設簡易、性價變高(gao)：應用(yong)商用(yong)化(hua)的硬件，對成(cheng)相激光切割光路還沒(mei)有非常規標準。
相位偏折術/相位偏折校正 系統化(hua)測(ce)試測(ce)試例(li)案(an)：
圖2 平行面鏡(jing)（λ/10）檢驗(yan)
圖3 球面鏡（Thorlabs ,CM508-500-G01）檢測工(gong)具
圖4 離軸拋(pao)物(wu)面鏡加測
圖5 ONERA司TMA放任斜面的檢測（右邊為LUPHOScan邊界儀自測結論）
相位(wei)(wei)偏折術/相位(wei)(wei)偏折預估 體系設備(bei)用途：
隨著時間推移工業營造營造業未來發展，世界各國在國際航(hang)空航(hang)天(tian)材料部、配(pei)置制(zhi)作業(ye)、各類汽車制(zhi)造生產、怪(guai)物醫美與流量(liang)和微(wei)智能(neng)智能(neng)化開發等業務領域方在面對霧面和霧面類等元件需求量越變越大，其就已經 稱得上了我過在通訊服務業的要素元件之1。研發操作過程中有塊道相應程序即是面形探測，現階段的選用探測的方式會存在探測效應低，探測表面粗糙度不樂意了足耍求等話題，不斷地西安昊量微電子程序有效公司相位偏折量測 程序（偏折術）投入(ru)市(shi)場，是可以能夠推助(zhu)國家(jia)的科技發(fa)展工程(cheng)項目(mu)。
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