服務型號：Xper WLI
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,生物產業,電子,航天,綜合 |
白光干涉儀
Xper WLI 就是一款于對各式精細機械電子元件及原材料的的面上開展亞nm級自動自動測量的監測器材。它是以白光燈打攪水平為設計原理、融入精細機械Z向掃描機儀掃描機組件、3D 繪制算法流程圖等對電子元件的的面上開展非相處式掃描機儀掃描機并形成的的面上3D圖文，借助操作系統軟文對電子元件的的面上3D圖文開展大數據外理與了解，并獲利發生變化電子元件的的面上質理的2D、3D基本參數，故而建立電子元件的的面上形貌3D自動自動測量的電子光學監測器材。優勢：
價格優勢：市場上性價比的白光干涉儀。
比較簡單易用：只需將備樣移動到于備樣上邊，就可同時做好檢測；可不就能夠衡量具體方法非排斥式非平淡樣本：是由于光電玻璃邊緣衡量具體方法法有的是種非排斥式枝術，可不就能夠輕易衡量具體方法微彎和別的非水平外表層。還輕易地衡量具體方法雙曲面的外表層滑膩度，紋理、紋路和滑度。除此外，做另一種非排斥式具體方法光電玻璃邊緣儀不要像電極式邊緣儀那受損柔嫩的塑料薄膜。無須更改醫療耗材：只需要其中一個LED光照，無須某些附件更改；可視化數據3D功能表：Xper WLI輪廓線條儀擁有更強的治理 apppc軟件，apppc軟件除例如表面能凹凸不平度，形式和踏步程度的測量方法外，還會任意尺寸斜度運動供試品量測立體平面圖形，多斜度了解供試品圖文。應用領域：
納米技術大尺度的層厚和局部檢查WLI和PSI狀態改換工業園應運：打樣定制和外部輪廓檢查試品類形：光電功率器件晶圓，納米技術功率器件，怪物村料，MEMS:電子光學元器件機誡操作系統，lED變色電感
規格
的的工作原理：白光燈打攪的的工作原理適用范圍：外觀上3D剖面在側量，外觀上有粗糙度在側量Z軸判斷率：1.75nm CCD 鑒別率：2464*2056掃描儀掃描使用范圍：30 μm物鏡：10X, 20X, 50X, 100X燈光：LEDPSI經濟模式濾光片構件：532，633nm（可以看出光規模：400-750nm） app軟件功用：自動式實踐狀態軟件設置后面補救：均勻補救/ z軸把控好成分設有/位移把控好，X / Y軸輪廓圖分離出來成像案例：
半導體器件
牙齒表面分析
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