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多波長動態干涉儀

闡述闡述：Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。

新產品具體型號：

制造廠商概念：代理商

更新時期時期：2021-12-20

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品牌	其他品牌	產地類別	進口
應用領域	電子	多波長動態干涉儀	納米級相位分辨率

Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀

【KALEO MultiWAVE 簡單介紹】

Phasics在光學計量領域持續創新，推出能夠兼顧測量散發出波前偏差和反射強度波前誤差率（TWE / RWE）的革命性新產品：Kaleo MultiWAVE動態干涉儀。直徑高至5.1英寸（130毫米）的鍍膜和未鍍膜的光學器件可在其工作波長下直接進行測量。 Kaleo MultiWAVE是購買多臺干涉儀或特殊波長干涉儀的有效替代方案，擁有*性價比。該系統同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。

【光于Phasics】

Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業經驗與*的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。

一、 Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀重要優勢特點

太陽光的紫外線、可見光、近紅外、短波紅外、中遠紅外等同樣多光波波長制作
單臺打攪儀可整合很多上班主波長
微米級相位識別率
二次搬運費動態性範圍 (>500 橫條數)

二、KALEO MultiWAVE 應用

光學材料儀器電氣元件及光學材料儀器模式劑量

三、KALEO MultiWAVE 測定案例庫

四、KALEO MultiWAVE 指標數據(1)

RMS重復性 (2)	< 0.7 nm (< λ / 900)
測量精度	80 nm PV (3)
動態范圍（離焦值）	500 fringes (SFE = 150 μm)
可測反射率范圍	4% - 100%

(1) 四英寸口徑，使用625 nm光源

(2) 在45英寸可以參考資料價值鏡上執行命令36次連續不斷測量，每個次測量使用的均化指標值16次。可以參考資料價值判定為其它奇數測量的最低值值。 RMS反復性判定為RMS最低值差值，添加偶數測量值與可以參考資料價值相互之間差值的準則較差的2倍。(3) 1 µm PV 離焦像差下

多波長動態干涉儀

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