物料參數：MPROBE 40 MSP
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子,綜合 |
| 微小區域薄膜厚度測量儀 | MPROBE 40 MSP |
微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP
MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統中同時結合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量，用于數千種應用程序，并提供完整的標準模型系列來支持它們。微小區域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP可以快速可靠地測量 1 納米到 2 毫米的厚度，包括多層薄膜堆疊。不同的模型主要由光譜儀的波長范圍和分辨率來區分，這反過來又決定了可以測量的厚度范圍。
技術應用：
1. 測定柱體或曲單單從表面上膜板厚為：打針器、安裝支架、銷釘、電源線等。就算在程度回彎的表單單從表面上，白點也會出現崎嶇不平的場以改變精確性測定。
2. 不勻、光滑的鍍層或光散射文件，如高霧度或納米級a粒子獲取pet薄膜。小亮斑產品定位側量有效率地才能減少光散射和不勻性的干擾
3.的圖案晶圓、MEMS 和各種應該高靈活度的領域的別墅區域檢測的的利用。
基本性標準：
精密度較 | 0.01nm或0.01% |
最準度 | 0.2%或1nm |
比較穩定量分析 | 0.02nm或0.03% |
聚對象長寬高 | 0.2mm或0.4mm |
產品的樣品寬度 | >20mm |
板厚使用范圍 | 0.05-70um |
光的波長范圍之內 | 400-1000nm |
型號選擇表單：
MProbe 40 | 光波波長領域 | 強度范圍內 |
VIS | 400nm -1100nm | 10nm – 75 μm |
UVVISSR | 200nm -1100nm | 1nm -75μm |
VISHR | 700nm-1100nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm – 85μm |
UVVisF | 200nm -1700nm | 1nm – 85μm |
UVVISNIR | 200nm-800nm | 1nm -5μm |
NIRHR | 1500nm -1550nm | 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si) |
*可要根據讓設計的個性探測器
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