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原位薄膜厚度測量儀

概括詳情：原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集。

食品款型：MPROBE 50 INSITU

銷售商化學性質：代理商

提升耗時：2022-04-13

訪問量：1302

品牌	其他品牌	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	生物產業,電子,綜合
原位薄膜厚度測量儀	MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度測量儀

<strong>原位薄膜厚度測量儀</strong>-MPROBE 50 INSITU

原位薄膜厚度測量儀用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統可以在高環境光下工作，因為它使用門控數據采集，使用高強度閃光氙燈在寬帶 ( UV-NIR) 波長范圍內進行精確測量。MProbe 50 系統是*可定制的，以支持不同的真空泵室幾何形狀。根據可用的光學端口，可以使用斜入射或垂直入射。光可以聚焦在樣品表面或準直。反射探頭可以放置在沉積室光學端口的外部或內部（使用光纖饋通）。MProbe 50 系統沒有活動部件。典型測量時間~10ms。可以快速可靠地測量任何半透明薄膜。

長處：

1.原位透明膜的厚度和 n&k 自動測量

2.適用于高區域環境光區域環境下精確測量的門控數據資料搜集

3.原料：500+ 拓展的原材料數據表格庫

4.間斷、很快和靠得住的測試

5.協調性的配制——*訂制以配對的堆積室的圖形圖型

挑選索引：

MProbe50	光波波長超范圍	板材的厚度區間
VIS	400nm -1100nm	15nm – 20 μm
HRVIS	700nm-1000nm	1μm-400μm
NIR	900nm-1700nm	100nm – 200μm
UVVisF	200nm -900nm	1nm – 20μm
UVVISNIR	200nm-1700nm	1nm -200μm
XT	1590nm -1650nm	10μm-1mm

對于昊量光學：

昊量光電，您的光電雜貨店！

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