品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 生物產業,電子,綜合 |
薄膜厚度均勻度測量系統 | MPROBE 60 |
薄膜厚度均勻度在線測量系統-MPROBE 60
MProbe 60 就是站式系統,專為科研開發咨詢主和小形研制而方案。它聯系了側量壁厚/n&k 與重新化少點側量的特性。MProbe 60 已用于科研開發奈米系統咨詢主。可不可以飛速穩定地側量 1 nm至 2 mm的壁厚,也包括多層電路板膠片堆疊。各不相同的MProbe 60 應用核心受光譜儀儀的吸光度比率和識別率危害,行而決心了可側量的壁厚比率。
薄膜厚度均勻度測量系統-MPROBE 60的優劣勢:
1.享有靈活多變和模快化的投射電腦自動化機械的一趟式平臺
2.可靠性強,精密度<0.01nm 或 0.01%
3.500+ 發展文件統計sql數據
4.APP:手機用戶合理且功能鍵多樣化的 TFCompanion APP因此行外理zui錯綜復雜的適用環節。數層不能局限,支技上面條件反射、外壁干燥度、暗度的。一體化的手機和顯像APP合法小于地位測試地位并隨便在畫像上表示后果
薄膜厚度均勻度在線測量系統-MPROBE 60選型列表:
MProbe 60 | 可見光波長區域 | 板厚區域 |
VISLX | 400nm -1000nm | 10nm – 75μm |
UVVisSR | 200nm-1000nm | 1nm-75μm |
UVVisF | 200nm-900nm | 1nm – 5μm |
VISHR | 700nm -1100nm | 1μm – 400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 50nm -100μm |
VISNIR | 400nm -1700nm | 10nm-100μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm-100μm |
NIRHR | 1530nm-1580nm | 25μm-2000μm |
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